주사전자현미경[Scanning Electron Microscope-SEM]
주사전자현미경[Scanning Electron Microscope-SEM]
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
원리
전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의 변화된 신호량의 대소를 브라운관 점의 명암으로써 영상시키는 방식이다. 전자선이 조사될 때 후방 산란 전자(back scattered electron), 2차 전자(secondary electron), X선, 음극 형광 등이 발생된다. 발생한 전자는 검출기에 의해 전류신호로 변환되어 브라운관 위에 신호상으로써 영상화된다. 이 중에서 2차 전자상이 가장 분리능이 높아서 가장 널리 사용된다. 다른 신호에 의한 상은 2차 전자상에 비해 분리능이 떨어지지만 시료를 구성하는 특수한 성질의 정보를 얻을 수 있으므로 이러한 것은 주로 특수목적의 분석에 이용되고 있다.
기능
1.고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰
2.차원적인 영상의 관찰이 용이해서 복잡한 표면구조나 결정 외형 등의 입체적인 형상을 높은 배율로 관찰할 수 있는 분석 장비
3.금속 파편, 광물과 화석, 반도체 소자와 회로망의 품질 검사, 고분자 및 유기물, 생체 시료와 유가공 제품 등 전 산업 영역에 활용
SEM원리
구조
전자총(electron gun)
전자총의 역할은 전자를 만들고 가속시키는 역할을 한다. 전자총은 전자선(electron ray)의 형태로 사용되는 안정된 전자원을 공급한다. 충분한 양의 이차전자를 생산할 수 있을 만큼 많은 양의 1차 전자를 만들되, 자기렌즈에 의해서 작은 빔을 효과적으로 형성하도록 고안되어 있다.
....
원리
전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의 변화된 신호량의 대소를 브라운관 점의 명암으로써 영상시키는 방식이다. 전자선이 조사될 때 후방 산란 전자(back scattered electron), 2차 전자(secondary electron), X선, 음극 형광 등이 발생된다. 발생한 전자는 검출기에 의해 전류신호로 변환되어 브라운관 위에 신호상으로써 영상화된다. 이 중에서 2차 전자상이 가장 분리능이 높아서 가장 널리 사용된다. 다른 신호에 의한 상은 2차 전자상에 비해 분리능이 떨어지지만 시료를 구성하는 특수한 성질의 정보를 얻을 수 있으므로 이러한 것은 주로 특수목적의 분석에 이용되고 있다.
기능
1.고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰
2.차원적인 영상의 관찰이 용이해서 복잡한 표면구조나 결정 외형 등의 입체적인 형상을 높은 배율로 관찰할 수 있는 분석 장비
3.금속 파편, 광물과 화석, 반도체 소자와 회로망의 품질 검사, 고분자 및 유기물, 생체 시료와 유가공 제품 등 전 산업 영역에 활용
SEM원리
구조
전자총(electron gun)
전자총의 역할은 전자를 만들고 가속시키는 역할을 한다. 전자총은 전자선(electron ray)의 형태로 사용되는 안정된 전자원을 공급한다. 충분한 양의 이차전자를 생산할 수 있을 만큼 많은 양의 1차 전자를 만들되, 자기렌즈에 의해서 작은 빔을 효과적으로 형성하도록 고안되어 있다.
....
-
주사전자 현미경-SEM [Scanning Electron Microscope]에 대해서
SEM(Scanning Electron Microscope) 1. SEM이란 SEM은 주사전자 현미경으로서 고체 상태의 미세조직과 형상을 관찰하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기기 중 하나이다. 기존의 광학현미경의 최대 확대배율은 .. -
주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
실험제목: 주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰 1.실험목적 본 실험에서는 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope: SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 관찰하는 방법을 학습한다. 2.실험 준비물 표.. -
[SEM촬영 보고서] 주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조)
주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조) 1. 과제의 배경 [그림 ] 주사 전자 현미경(EDS장착) SEM(Scanning Electron Microscope)은 주사전자 현미경으로 재료의 미세조직과 .. -
SEM(Scanning Electron Microscope) 주사 현미경
SEM(Scanning Electron Microscope) 주사 현미경 목 차 1. SEM이란 2. SEM의 개발 역사 3. SEM의 작동 원리 4. SEM의 구성 5. SEM의 분해능 6. SEM의 시편준비 7. SEM으로 관찰한 여러 가지 영상 1. SEM이란 .. -
현미경 사용법
Title 현미경 사용법 Date 2012년 3월 16일 Purpose 생명과학을 하다보면 현미경은 뗄 레야 뗄 수 없는 관계이다. 그래서 현미경의 구조와 각 부분의 기능을 알아보고 관찰한 물체를 통해 배율, 해상도 등의 현미.. -
현미경의 종류, 구조, 기능 및 세포의 길이측정
현미경의 종류와 구조 및 기능 소개 양파 표피세포의 관찰과 길이 측정 총8pg 1.실험 목적 2.배경지식 -현미경의 종류와 구조및 기능 -취급 시 주의사항 3.가설 설정 4.실험 5.실험방법과 순서 6.실험 결과(사.. -
재료공학 기초실험 - SEM 을 통한 미세구조 관찰[SEM을 이용 BaTiO3의 첨가제에 따른 grainsize에 대한실험 ]
재료공학기초실험. SEM -SEM 을 통한 미세구조 관찰 1. Backgrounds - SEM 의 원리 및 활용 주사 전자 현미경(SEM)은 말 그대로 주사 전현의 상(Scanning Electron Microscope)을 화상으로 볼 수 있는 장치를 뜻.. -
SEM 기기의 분석과 분석방법
SEM에 관한 장담점 분석 원리 기능적인 요소 기기에 필요한 시료제작법 응용법 등이 있습니다 많은 양의 사진자료 보유 SEM 원리 구성 전자총 전자광학계 진공계 전자회로계 렌즈 SEM의 영상 형성 과정 .. -
SEM 조직관찰
1. 실험목적 기술이 진보함에 따라 마이크론 크기나 그 이하 크기의 시료에 대한 관찰과 분석을 통한 정확한 이해가 필요하게 되었다. 이러한 미세 구조에 대한 관심으로 인해 단순한 확대경에서 광학현미경에 이.. -
주사전자현미경분석의뢰서
주사전자현미경 분석의뢰서 (Scanning Electron Microscope) No. 20 년월일 소속 과실 (TEL :) 성명 지도교수 : 의뢰자 : (인) 분석요구일시 20 년월일시～시 분석내용 표면미세구조관찰 □ 단면미세구..
