디지털공학 실험 - 수 체계 실험

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디지털공학 실험 - 수 체계 실험
제목
수 체계

실험목표
□2진수 또는 BCD(binary code decimal) 수를 10진수로 변환.
□BCD 수를 디코딩하고 7-세그먼트로 표시해 주는 디지털 시스템 구성.
□모의실험용으로 결함을 만들어 놓은 회로의 고장 진단.

사용 부품
LED 4개
7447A BCD/10진 디코더
MAN72 7-세그먼트 디스플레이
4조 DIP 스위치
저항: 330Ω 11개, 1.0kΩ 1개

실험순서
1. 이 실험의 회로를 구성하기 전에 ‘실험 개요’의 ‘회로 결선’ 부분을 복습하도록 하여라. 이번 실험부터 IC에 대한 핀 번호는 생략한다. 핀 번호들은 부록 A의 데이터 시트나 제조업체의 웹 사이트를 참조하기 바란다. 회로 결선을 하기 전에 직접 알아낸 핀 번호를 도면에 기입해 놓는 곳도 좋은 방법이다.

2.BCD 입력을 나타내는 그림3-1 회로를 구성하여라. 회로를 결선한 후에 전원을 연결하고 LED에 불이 들어오는지 각 스위치를 테스트하여라.

3. 전원을 제거하고, 그림3-2의 회로를 구성하여라. 실제 회로 결선의 예를 그림 3-3에 나타내었다. 아직 회로 결선 전이라면 도면에 핀 번호를 적어놓아라. MAN72 7-세그먼트 디스플레이의 핀 번호는 그림 3-4¹⁾에 나타나 있다. 7447A는 16핀이고 MAN72는 14핀인 것에 주의하여라.
전원을 인가하기 전에 디코더의 각 출력과 MAN72 입력 사이에 330Ω 전류 제한 저항을 연결하였는지 점검하여라. 1.0kΩ 저항을 통하여 Lamp test, BI/RBO, RBI 입력을 +5.0V 에 연결하여라. 이 저항은 이들 입력이 논리 HIGH로 유지되도록 해주는 풀업(pull-up) 저항이 된다.

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